非接觸式IC卡
2019-09-21
一種非接觸式集成電路(IC)卡由以下兩部分組成:第一天線線圈和第二天線線圈，用于通過接收來自讀寫器的電磁波產(chǎn)生電動勢;第一電動勢測量單元和第二電動勢測量單元，分別用于測量各天線線圈所產(chǎn)生的電動勢;一種電動勢比較單元，用于比較各自天線線圈產(chǎn)生的電動勢的特性，然后進(jìn)行測量;以及應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元，用于根據(jù)電動勢比較單元所作的比較，從程序存儲單元中選擇一個應(yīng)用程序并執(zhí)行所選應(yīng)用程序。
一種可執(zhí)行多個應(yīng)用程序的非接觸集成電路(IC)卡，包括:多個天線線圈，每個線圈通過接收來自讀寫器的電磁波產(chǎn)生電動勢;一種電動勢測量裝置，可用于測量非接觸式IC卡通過讀寫器時每個天線線圈所產(chǎn)生的電動勢;一種電動勢比較裝置，可用于比較所述電動勢測量裝置所測得的電動勢的特性;以及一種應(yīng)用選擇/執(zhí)行單元，該應(yīng)用選擇/執(zhí)行單元可根據(jù)電動勢比較單元所作的比較選擇一個應(yīng)用程序，并執(zhí)行所選的應(yīng)用程序。
根據(jù)權(quán)利要求1所述的非接觸IC卡，其中電動勢比較單元比較電動勢的強度，所述應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元執(zhí)行與產(chǎn)生最強電動勢的天線線圈相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序。
非接觸式IC卡根據(jù)索賠1,其中電動勢比較單元產(chǎn)生的電動勢的部隊分別比較優(yōu)勢的多元化天線線圈在預(yù)定的時間內(nèi)的第二次運行以來第一次當(dāng)一個電動勢是首先測量電動勢的測量單位,所述應(yīng)用選擇/執(zhí)行單元執(zhí)行與第二次產(chǎn)生最強電動勢的天線線圈相關(guān)聯(lián)的應(yīng)用程序。
非接觸式IC卡根據(jù)權(quán)利要求1,其中的電動勢比較單位比較各自乘以每個電動勢達(dá)到峰值時,所產(chǎn)生的電動勢是說每個天線線圈和測量電動勢的測量單位,和應(yīng)用程序選擇/執(zhí)行單元執(zhí)行應(yīng)用程序與天線線圈的電動勢首先達(dá)到一個峰值。
應(yīng)用程序選擇方法為非接觸式集成電路(IC)卡,可以執(zhí)行應(yīng)用程序的多元化,其中非接觸式IC卡的多元化天線線圈,每個生成一個電動勢通過接收電磁波從閱讀器/寫入器,和方法包括:測量每個天線線圈所產(chǎn)生的電動勢;比較了所測電動勢的特性;并根據(jù)比較選擇一個應(yīng)用程序并執(zhí)行所選的應(yīng)用程序。
一個計算機可讀存儲介質(zhì)上存儲程序的非接觸式集成電路(IC)卡可以執(zhí)行應(yīng)用程序的多元化,其中非接觸式IC卡的多元化天線線圈,每個生成一個電動勢通過接收電磁波從閱讀器/寫入器,和程序使計算機執(zhí)行的步驟:測量每個天線線圈所產(chǎn)生的電動勢;比較了所測電動勢的特性;并根據(jù)比較選擇一個應(yīng)用程序并執(zhí)行所選的應(yīng)用程序。
集成電路控制接觸器集成電路(IC)卡,可以執(zhí)行多個應(yīng)用程序,其中非接觸式IC卡的多元化天線線圈,每個生成一個電動勢通過接收電磁波從閱讀器/寫入器,集成電路包括:一個電動勢測量單元操作測量每個天線線圈所產(chǎn)生的電動勢;一種電動勢比較裝置，可用于比較所述電動勢測量裝置所測得的電動勢的特性;以及一種應(yīng)用選擇/執(zhí)行單元，該應(yīng)用選擇/執(zhí)行單元可根據(jù)電動勢比較單元所作的比較選擇一個應(yīng)用程序，并執(zhí)行所選的應(yīng)用程序。
134 209 79610
QQ客服
E-mail